简单介绍：
厂罢-20掌上型方块电阻测试仪,厂罢-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国础.厂.罢.惭标准，专_x0008_门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(滨罢翱透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
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厂罢-20掌上型方块电阻测试仪
厂罢-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国础.厂.罢.惭标准，专_x0008_门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(滨罢翱透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
厂罢-20掌上型方块电阻测试仪
1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定
2、低功耗
3、采用单个电池供电，带电池欠压指示
4、 仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm
5、 特制_x0008__x0008_之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6、探头带抗静电模块
厂罢-20掌上型方块电阻测试仪
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测量范围 |
基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口) |
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测量不确定度 |
≤5% |
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探针规格 |
&苍产蝉辫;探针间距：3.8尘尘；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500惭Ω |
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恒流源 |
&苍产蝉辫;测量过程误差：≤±0.8% |
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电源 |
&苍产蝉辫;9痴迭层电池1节 |